導航
「作為分光測量的領軍者，我們引以為豪的是不斷進取，從光源、照明、材料膜厚測量，一直發(fā)展到探索新的領域。
在1980年代初期，自動記錄光度計作為分光測量中不可或缺的主流，采用的是通過信號條移動光柵的機制。當時擁有獨特產品特長的大塚電子公司，采用了同時期最先進技術——光電二極管陣列作為傳感器，并在光學系統(tǒng)中使用光纖，通過計算機控制，創(chuàng)造出了具有劃時代意義的分光分析裝置「多通道分光光譜儀(MCPD)」，給科學測量設備行業(yè)注入了新風。
由于MCPD是一個全新概念的檢測器，因此剛開始時被限制在大學和先進的研究部門中使用。
但是，我們引入了數(shù)字技術來替代傳統(tǒng)的模擬技術，進行了軟件開發(fā)和應用開發(fā)，以滿足客戶的需求，并建立了相應技術。不久之后，新概念的價值得到了理解，并被采納于電子及其他許多行業(yè)中，我們提供的系統(tǒng)可以覆蓋從研究開發(fā)、生產線、質量管理等廣泛領域。現(xiàn)在，MCPD是大塚電子光測量設備的核心。
以MCPD為基礎開發(fā)的產品中，例如膜厚測量設備，可在處理半導體晶圓上生成的膜的同時進行測量，以及在生產線上測量食品包裝用薄膜的膜厚的設備等。在其他領域中，還有評估光源本身的如LED和車前燈等裝置的設備，以及液晶電視和平板電腦用零部件的評估設備，以及用于顯示器生產線的評估設備等。
分光測量業(yè)務將持續(xù)不斷地向小型檢測器添加不同的新技術，不斷開發(fā)高精度、高靈敏度、易于使用的設備，以滿足各種領域的需求。
「基于光散射技術不斷發(fā)展，拓展未來的新材料、納米技術領域等廣泛應用」
利用光散射作為新材料分析的核心技術，并將其應用于納米技術領域的物性測量。以粒子大小、電位和分子量的測量方法作為基準，拓展新材料、生命科學、高分子化學，以及半導體和醫(yī)藥等領域的應用。
大塚電子從其創(chuàng)立之初就以光散射技術和分離技術為基礎，這些技術不僅是公司的技術根源，也是新材料分析的核心技術并以這些技術開發(fā)、生產和銷售獨特的產品。利用光散射技術的產品是大塚電子歷史最悠久的產品系列之一。在許多大學、官方機構和企業(yè)中，做為功能材料和新材料物性評估測量設備被高度評價。在接受各方面的建議和幫助下，不斷開發(fā)絕對分子量測定、微粒子粒徑測定和電位測定設備，并在各應用領域進行改進。同時，從基礎研究到質量控制的用途不斷擴大，在這一領域已經成為日本唯一的國產制造商，獲得了極高的信任。
以納米粒子為代表的10億分之一米規(guī)模的新材料開發(fā)發(fā)展迅速。大塚電子的主要產品是利用“動態(tài)光散射法”技術來測量溶液中的納米粒子。我們可以自豪地說，在業(yè)界開始將“動態(tài)光散射法”應用于納米粒子分析時，我們是最早的之一。隨著納米技術和納米材料市場的迅速擴大，利用光散射產品進行納米粒子的物性評估的必要性不斷增加。例如，通過將材料納米化來發(fā)現(xiàn)新功能，使最終產品具有更高的質量等，有各種可能性。納米技術、生命科學、高分子化學、新材料、食品、化妝品、環(huán)境，以及半導體和醫(yī)藥領域的技術不斷發(fā)展。我們將繼續(xù)提供分析手段和可靠性高的產品，以滿足從研發(fā)到質量管理各方面的需求。
